SNJ54BCT8374AJT Texas Instruments
SNJ54BCT8374AJT Texas Instruments
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-CDIP
Артикул SNJ54BCT8374AJT
Производитель Texas Instruments
Описание
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-CDIP
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
Производитель: Texas Instruments
Артикул производителя: SNJ54BCT8374AJT
Поставка для юридических лиц, комплектация BOM, запрос цены и срока поставки.
Документация и параметры
Электрические и предельные параметры проверяйте по datasheet производителя. Непроверенные данные старого импорта на сайте не показываются.
Техническая документация
