SNJ54BCT8374AFK Texas Instruments
SNJ54BCT8374AFK Texas Instruments
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 28-LCCC (11.43x11.43)
Артикул SNJ54BCT8374AFK
Производитель Texas Instruments
Описание
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 28-LCCC (11.43x11.43)
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
Производитель: Texas Instruments
Артикул производителя: SNJ54BCT8374AFK
Поставка для юридических лиц, комплектация BOM, запрос цены и срока поставки.
Документация и параметры
Электрические и предельные параметры проверяйте по datasheet производителя. Непроверенные данные старого импорта на сайте не показываются.
Техническая документация
