• phone
SNJ54BCT8244AJT Texas Instruments
product

SNJ54BCT8244AJT Texas Instruments

Scan Test Device with Buffers IC 24-CDIP

Артикул SNJ54BCT8244AJT

Производитель Texas Instruments

Описание

Scan Test Device with Buffers IC 24-CDIP

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUF

Производитель: Texas Instruments

Артикул производителя: SNJ54BCT8244AJT

Поставка для юридических лиц, комплектация BOM, запрос цены и срока поставки.

Документация и параметры

Электрические и предельные параметры проверяйте по datasheet производителя. Непроверенные данные старого импорта на сайте не показываются.

Техническая документация