SN74LVTH18646APM Texas Instruments
1 652 ₽
3 304 ₽
SN74LVTH18646APM Texas Instruments
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
Артикул SN74LVTH18646APM
Производитель Texas Instruments
Описание
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Производитель: Texas Instruments
Артикул производителя: SN74LVTH18646APM
Поставка для юридических лиц, комплектация BOM, запрос цены и срока поставки.
Документация и параметры
Электрические и предельные параметры проверяйте по datasheet производителя. Непроверенные данные старого импорта на сайте не показываются.
