SN74BCT8374ADWRG4 Texas Instruments
SN74BCT8374ADWRG4 Texas Instruments
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
Артикул SN74BCT8374ADWRG4
Производитель Texas Instruments
Описание
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Производитель: Texas Instruments
Артикул производителя: SN74BCT8374ADWRG4
Поставка для юридических лиц, комплектация BOM, запрос цены и срока поставки.
Документация и параметры
Электрические и предельные параметры проверяйте по datasheet производителя. Непроверенные данные старого импорта на сайте не показываются.
