SN74ABT8952DW Texas Instruments
SN74ABT8952DW Texas Instruments
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC
Артикул SN74ABT8952DW
Производитель Texas Instruments
Описание
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Производитель: Texas Instruments
Артикул производителя: SN74ABT8952DW
Поставка для юридических лиц, комплектация BOM, запрос цены и срока поставки.
Документация и параметры
Электрические и предельные параметры проверяйте по datasheet производителя. Непроверенные данные старого импорта на сайте не показываются.
Техническая документация
